Сканирующий зондовый микроскоп Shimadzu SPM-9600

Сканирующий зондовый микроскоп Шимадзу  мощный инструмент для исследования поверхности. Комплексный подход к анализу с помощью SPM9600 реализован в возможности работы в различных режимах: контактная, динамическая и фазовая атомная силовая микроскопия (AFM); силовая модуляция; измерения тока; электростатическая силовая микроскопия (EFM); магнитная силовая микроскопия (MFM); Кельвиновская силовая микроскопия (KFM); латеральная силовая микроскопия (LFM). С помощью специальных чашек Петри возможны исследования под слоем жидкости. Использование камер с контролем окружающей среды (WET SPM) позволяет работать в вакууме и в различных газовых атмосферах, при контролировании температуры, влажности, с нагреванием и охлаждением образца.