Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Shimadzu Lab Center XRF-1800

Цена:

Пионерские разработки Шимадзу в области высокочувствительного анализа. Lab Center XRF-1800 расширяет сферу применения волнодисперсионных рентгеновских спектрометров.

Повышенная чувствительность благодаря новой оптической системе: • Рентгеновская трубка 4 kW с тонким окном • Система смены фильтров (5 типов для первичного излучения) • Выбор глубины вакуума и скорости продувки воздухом, гелием, азотом • Стабилизатор вакуума для повышения воспроизводимости • Сокращенное расстояние от трубки до образца и апертурной диафрагмы
Точечный анализ распределения элементов с шагом 250 мкм в до полнение к широкополосному картированию в области 10 30 мм
Излучения первого и более высоких порядков измеряются одновременно
Метод фоновых фундаментальных параметров для измерений толщины пленок и элементного анализа высокомолекулярных пленок с использованием линий Комптоновского рассеяния (магнитные ленты, магнитооптические диски, упаковочные пленки, фольга с покрытиями)

Прайсы »

Характеристики

Диапазон определяемых элементов	От Be по U, базовая комплектация от O по U
Рентгеновский генератор трубка параметры	Rh-анод c тонким торцевым окном, мощность 4 кВт опции: W, Pt, Cr аноды 60 кВ, 150 мА
Система охлаждения	Двойной контур, внутренний замкнутый для охлаждения анода, внешний открытый/замкнутый. Рециркулятор воды (опция).
Облучение образца	Сверху; образец вращается со скоростью 60 об/мин
Система ввода образца	Маятникового типа, без динамических нагрузок
Автосамплер	8 позиций; 40-позиционный (опция)
Держатели образцов	7 для массивных образцов, один для локального анализа
Размер образца	51 мм в диаметре, высота 38 мм
Первичные фильтры	Автоматическая смена 5 типов: Al, Ti, Ni, Zr, без фильтра
Апертуры	Автоматическая смена 5 типов: 500 мкм, 3, 10, 20, 30 мм
Локальный анализ	0,5 мм диаметр; цифровая камера для контроля области анализа (опция)
Первичные щели	Автоматическая смена 3 типов: - стандарт - с высоким разрешением - с высокой чувствительностью
Аттенюатор	Автоматическое включение/выключение
Сменщик кристаллов	Автоматическая смена 10 кристаллов в двух направлениях
Кристаллы-анализаторы	LiF (200), PET, Ge, TAP стандартные; LiF (220), SX-52, SX-1, SX-14, SX-88, SX-98, SX-76, SX-410 опции
Детекторы	Сцинтилляционный счётчик (SC) для тяжелых элементов, Проточный пропорциональный счетчик (FPC) для лёгких элементов
Система подачи газа для FPC	Электронный контроль плотности; потребление газа 5 см³/мин
Контроль степени разрежения	Стабилизатор вакуума
Атмосфера анализа	Воздух/вакуумирование; предварительное вакуумирование с двумя скоростями; система напуска гелия/азота (опция)

Функции

Lab Center XRF-1800 расширяет сферу применения волнодисперсионных рентгеновских спектрометров

Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия Be по уран U за 2,5 минуты
Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм
Локальный анализ в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры
Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент)
Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий
Уникальная система пробоподачи образца