Энергодисперсионные микрорентгенофлуоресцентные спектрометры Shimadzu µEDX-1200 / 1300 / 1400

Цена:

μEDX 1200/1300/1400 — энергодисперсионные МИКРО рентгенфлуоресцентные спектрометры, позволяющие проводить картирование распределения элементов от 13Al до 92U (11Na92U для μEDX 1300) с беспрецедентной точностью 50 μм. Запатентированая фокусирующая поликапилярная оптика создает точечный пучок (∅50 μм) большой мощности, позволяющий получать достоверные результаты при выдержке в точке в течении долей секунды. Использование дополнительного детектора позволяет исследовать флуоресцентное излучение не только на отражение, но и на просвет.

Прайсы »

Характеристики

Тип образцов	Твёрдые, жидкие, порошки
Измерительная камера	Воздушная атмосфера
*Размер образца (ШДВ, макс)*	200 х 300 х 40 мм
Диапазон перемещения образца	X - Y — 100 * 100 мм Z — 40 мм
Максимальный вес образца	2 кг
Генератор излучения Напряжение, ток Охлаждение	Трубка с Rh -анодом 50 кВ , 1000 мА Воздушное
Фильтры первичного излучения	Автоматическая замена (5 позиций)
Детектор	Si ( Li ) [ µEDX-1200, 1300] Подача жидкого азота только во время измерения Площадь детектора 30 мм² Детектор с термоэлектрическим охлаждением [ µEDX -1400] – не требует жидкого азота
Обработка данных	IBM PC/AT, Windows, XP

Функции

Диапазон определяемых элементов: от Na по U (µEDX-1300), от Al по U (µEDX-1200, 1400)

Поликапиллярная оптическая система обеспечивает высокочувствительный и точный анализ образцов с разрешением 50 мкм. (Патент Японии)
Анализ элементов в диапазоне ( Na – U : µEDX -1300; Al – U : µEDX -1200, 1400) в атмосфере воздуха (Патент Японии).
Цифровая камера обеспечивает легкое позиционирование образца и видеоконтроль области анализа.
Базовое программное обеспечение включает методы фундаментальных параметров(ФП) и калибровочных кривых, матричную коррекцию( 5 основных типов), метод фоновых ФП для определения толщины и состава неорганических и органических пленок и покрытий.
Повышение соотношения сигнал/шум путем автоматической смены 5-ти первичных фильтров.
Автоматическое картирование элементов путем высокоскоростного сканирования.
Дополнительный детектор проходящего излучения позволяет регистрировать изображение одновременно в режимах флуоресценции и трансмиссии.
Детектор с термоэлектрическим охлаждением не требует жидкого азота ( µEDX -1400)