|
|
Система нагрузки Электромагнитная катушка Усилие нагрузки 0,1 mN ~ 1961 mN (минимальное разрешение 0,196 ìN) Система измерения глубины следа Дифференциальный трансформатор Диапазон измерения глубины следа 0 % 10 мкм (минимальное разрешение 0,001 мкм) Усиление измерений силы ×1 % ×100 (7 ступеней с автоматическим переключением диапазонов) Наконечник Трехгранная пирамида, угол на вершине 115° Оптический монитор Микроскоп с общим увеличением ×500 Микрометр Прямого подсоединения со шкалой и ручкой управления Предметный столик Ход по вертикали 60 мм, площадь 130 × 130 мм Диапазон перемещения столика 25 мм по осям X и Y Размеры (Блок измерений/управления) 335Ш × 525Д × 650В / 420Ш × 369Д × 156В мм Масса (Блок измерений/управления), кг 50 / 20 Электропитание 200/220 В, 800 Вт, 1 фазн.
|
- Определение твердости и параметров материала в соответствии с принятыми стандартами (ISO 14577-1 Annex A. “Металлические материалы. Инструментальное индентирование для определения твердости и параметров материала – Часть 1: Метод испытания. Приложение А:
- Определение параметров материалов по данным нагрузка/ поверхность индентирования”).
- Высокоточное определение модуля упругости.
- Контроль силы, прикладываемой в процессе испытания с разрешением 0,196 мкН.
- Широкий диапазон нагрузок от 0,1 до 1961 мН.
- Высокоточное измерение глубины следа.
- Широкий диапазон методов испытаний.
- Возможность выбора идентеров, в том числе и для проведения испытаний по Виккерсу и Кнупу (опция).
- Проведение циклических испытаний.
Области применения:
- Тонкие пленки (специально обработанные поверхности, например, нитридный слой).
- Пластики.
- Резины, каучуки и другие эластомеры.
- Металлические изделия.
- Волокна (ультратонкие, такие как оптические волокна и углеродные волокна).
- Хрупкие материалы (стекло, керамика и т.д).
- Микроскопические компоненты электроники.
|